幾點對比射頻導納物位開關和電容物位開關差異

　　此物位開關的通用性強，可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質的測量要求，并可應用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。

　　防掛料設計，*的電路和傳感器結構使其測量可以不受傳感器掛料影響，無需定期清潔，避免誤測量。

　　測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題。接觸式測量，抗干擾能力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。

　　射頻導納物位開關與電容式物位開關是兩種常見的料位開關。從外觀上看，射頻導納式的探頭由測量極、保護極、罐體極三層金屬相互隔離組成，而電容式的探頭由測量極和罐體極兩層金屬相互隔離組成。以上探頭結構的不同，是因為射頻導納式增加了解決電容式易受掛料影響而誤報警問題的抗掛料電路。

　　射頻導納物位開關由探頭測量極與空載罐體間的電抗共同構成平衡電橋電路并產生一個穩定振蕩信號，當被測介質覆蓋探頭測量極時振蕩信號停止，后級電路檢測到這一變化從而輸出報警信號。穩定的振蕩信號作為射頻信號施加在探頭測量極的同時，還經過內部電路中的1：1電壓跟隨器結構送往探頭的保護極，此時測量極與保護極的射頻信號具有等電位、同相位、同頻率又互相隔離的特征。當探頭有掛料時，射頻導納式物位開關測量極與保護極之間因為沒有電勢差而形成電氣隔離，確保保護極的信號變化不影響檢測，使探頭測量極上電抗的變化只能由探頭測量極與罐體間的物料決定，使探頭上的掛料不會影響正常檢測。

　　電容式物位開關因缺少1：1電壓跟隨器的電路結構使得探頭測量極與罐體之間也缺失了保護極。當探頭有掛料時，測量極與罐體間無電位隔離，探頭測量極上粘附物料的電抗將直接影響檢測，從而造成探頭誤報警的情況發生。